Высокоточная система измерения покрытия Bowman B Series XRF

Продукты высокоточной системы измерения покрытия Bowman B Series XRF:

Высокоточная система измерения покрытия Bowman B Series XRFЭто базовая и обычная модель Borman. Модель измеряется сверху вниз. Установка стационарного стенда для образцов позволяет осуществлять ручное управление. При измерении образец помещается в резервуар для образцов, и измерение выполняется путем наблюдения видеоизображения, направленного на положение внутри креста на экране.

Преимущества высокоточной системы измерения покрытия Bowman B Series XRF:

Система XRF

Твердотельные детекторы с высоким разрешением обладают хорошей разрешающей способностью и не требуют вторичного фильтра. Пиковые уровни остаются стабильными в течение длительного времени и не требуют частой перекалировки. По сравнению с другими устройствами того же типа количество фотонов в геометрической компоновке с замкнутой связью рентгеновских труб и детекторов значительно увеличилось.

Интуитивный пользовательский интерфейс

Комплект программного обеспечения Bowman будет поддерживать производительность прибора.Высокоточная система измерения покрытия Bowman XR FАналитические данные поддерживаются мощным программным обеспечением, которое будет иметь интуитивный пользовательский интерфейс и работать просто и дружелюбно. Данные измерений могут быть извлечены по номеру партии, и отчет может быть сгенерирован одним нажатием клавиши. Пользователи могут создавать новые приложения и форматы отчетов без ограничений, все результаты автоматически сохраняются в базе данных компьютера, а защита пароля может быть установлена на всех уровнях пользователя.

Широкий диапазон измерений толщины покрытия

Высокоточная система измерения покрытия BowmanXRF позволяет проводить высокоточные измерения и анализ элементов с алюминием 13 до урана 92.

• Однослойное покрытие: Au, Ag, Ni, Cu, Sn, Zn и др.

• Сплавовое покрытие: одновременный анализ толщины покрытия и соотношения компонентов, таких как сплав ZnNi и SnPb

• Двойное покрытие: Au / Ni / Cu, Sn / Ni / Cu, Cr / Ni / Fe и т.д.

• Три слоя покрытия: Au / Pd / Ni / Cu и т.д.

• Можно анализировать до 5 слоев покрытия.

• Можно одновременно анализировать 25 элементов.

• Анализ концентрации ионов металлов в гальваническом растворе

• 可分析ROHS有害元素

Боуман XRFвысокоточная система измерения покрытияПоддержка услуг:

Техническая поддержка и услуги XRF, предоставляемые Bowman пользователям. Помимо штаб - квартиры в Чикаго, Bowman имеет офисы или учреждения в более чем 20 странах на четырех континентах. Компания Borman всегда была привержена достижению пользователей, предоставляя услуги технической поддержки на местах. Bowman имеет демонстрационный центр приложений, учебный центр и склад запасных частей в Шанхае, Китай, а также офисы в Шэньчжэне, Ханчжоу и Сиане. Способность предоставлять клиентам интимные схемы проверки толщины покрытия и быстрое соответствующее послепродажное обслуживание.

Настройка высокоточной системы измерения покрытия Bowman B Series XRF:

Высокоточная система измерения покрытия Bowman B Series XRFСтандартная конфигурация включает в себя фиксированный коллиматор, камеру с фиксированным фокусным расстоянием, твердотельный PIN - детектор и высококачественную микрофокусную рентгеновскую трубку. Как и другие модели, модель может быть обновлена до нескольких коллиматоров, камер с переменным фокусным расстоянием и детекторов SDD.

Принципы измерения высокоточной системы измерения покрытия Bowman B Series XRF:

Высокоточная система измерения покрытия Bowman B - Series XRF использует принцип рентгеновской флуоресценции для измерения покрытия и состава. Когда высокоэнергетические рентгеновские лучи облучают поверхность металлической пленки, падающие фотоны выбивают внутренние электроны из мембраны или атомов субстрата, образуя дырки. При заполнении дырок внешними электронными переходами выделяется характерная рентгеновская флуоресценция, энергия которой соответствует атомному порядку элемента, и благодаря энергии флуоресценции мы можем узнать, какие элементы присутствуют в образце, а по интенсивности XRF мы можем проанализировать толщину образца и состав каждого элемента.

А

Высокоточные системы измерения покрытия Bowman B Series XRF для промышленности:

Параметры высокоточной системы измерения покрытия Bowman B Series XRF: